Aigtek功率放大器在lamb波時間反轉(zhuǎn)法的脫粘缺陷成像研究中的應(yīng)用

實(shí)驗(yàn)名稱：功率放大器基于lamb波時間反轉(zhuǎn)法的脫粘缺陷成像仿真研究

實(shí)驗(yàn)?zāi)康模涸趯?shí)際的大型固體火箭發(fā)動機(jī)結(jié)構(gòu)中，復(fù)合材料殼體曲率較小，玻璃纖維也以一定規(guī)律進(jìn)行鋪層，且脫粘是復(fù)合材料殼體/絕熱層界面間主要的缺陷形式，設(shè)計制備層狀板結(jié)構(gòu)的脫粘試件，并結(jié)合前文時間反轉(zhuǎn)方法的理論基礎(chǔ)及構(gòu)建的干耦合Lamb波檢測平臺，開展脫粘缺陷成像的仿真及實(shí)驗(yàn)研究。

實(shí)驗(yàn)設(shè)備：干耦合探頭、任意信號發(fā)生器、ATA-4051功率放大器、多通道示波器、計算機(jī)等。

實(shí)驗(yàn)過程：

硬件設(shè)備的搭建：

干耦合Lamb波檢測硬件系統(tǒng)主要由干耦合探頭、任意信號發(fā)生器、功率放大器、多通道示波器、計算機(jī)及相應(yīng)檢測軟件組成。

干耦合超聲成像檢測系統(tǒng)原理圖

      干耦合超聲檢測系統(tǒng)工作原理如圖所示，首先由計算機(jī)上位軟件ArbExpress通過兩種方式編譯波形: (1 )利用函數(shù)編輯器輸入波形的函數(shù)表達(dá)式； (2)導(dǎo)入離散數(shù)據(jù)列。這兩種方式在時間反轉(zhuǎn)過程中都將用到，原始激勵波形需根據(jù)具體函數(shù)表達(dá)式編譯，使發(fā)射探頭得到正確良好的觸發(fā)，時間反轉(zhuǎn)信號二次加載時則需要導(dǎo)入離散數(shù)據(jù)列。然后發(fā)送編譯波形至信號發(fā)生器，設(shè)定好原始激勵波形的頻率、幅值等參數(shù)，由功率放大器對原始波形進(jìn)行增益放大才能達(dá)到要求。將放大后的信號加載至干耦合發(fā)射探頭，在板狀檢測試件中激勵出Lamb波，接收探頭將會接收到響應(yīng)信號，并將其發(fā)送至多通道示波器，最后在LabVIEW環(huán)境下讀取各通道檢測數(shù)據(jù)，并對結(jié)果進(jìn)行后處理。

實(shí)驗(yàn)結(jié)果：

六探頭缺陷實(shí)驗(yàn)成像

(1)從圖5.13中可以看出，檢測探頭位置清晰可見，損傷區(qū)域與未損傷區(qū)域?qū)?span style="padding: 0px; margin: 0px; list-style-type: none; box-sizing: border-box;">比明顯。制作的檢測試件中缺陷中心位置為(400,400),橫向范圍為390~430mm,縱向范圍為380~420mm，根據(jù)無基準(zhǔn)損傷成像方法實(shí)驗(yàn)得到的閾值化圖像中顯示出兩個缺陷;

(2)檢測試件中預(yù)制缺陷的形狀為三角形，而損傷成像中邊緣較模糊，尚不能分辨出缺陷的具體形狀;

(3)損傷成像中存在多個比缺陷區(qū)域亮度稍低的虛像，形成過渡帶,顯示出兩個缺陷，可能的原因是: 1)檢測探頭個數(shù)較少，橢圓系存在多個交點(diǎn); 2)由于玻璃纖維材料的各向異性，導(dǎo)致部分不沿纖維鋪層方向傳播的路徑信號非線性; 3)試件在粘接過程中由于膠粘劑的不均勻?qū)z測信號造成了影響;4)實(shí)驗(yàn)環(huán)境的變化對實(shí)驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生影響。

實(shí)驗(yàn)中所以用的功率放大器ATA-4051參數(shù)指標(biāo)：

     本文實(shí)驗(yàn)由西安安泰電子整理發(fā)布，西安安泰電子科技有限公司（Aigtek）是國內(nèi)專業(yè)從事測量儀器研發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高科技企業(yè)。公司致力于功率放大器、計量校準(zhǔn)產(chǎn)品、線束測試儀等產(chǎn)品為核心的相關(guān)行業(yè)測試解決方案的研究，為用戶提供具有競爭力的測試方案，Aigtek 已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線，且具有相當(dāng)規(guī)模的儀器設(shè)備供應(yīng)商，樣機(jī)都支持免費(fèi)試用。如想了解更多實(shí)驗(yàn)方案，請持續(xù)關(guān)注安泰電子。

注：此實(shí)驗(yàn)案例參考自知網(wǎng)論文《固體火箭發(fā)動機(jī)多層粘接結(jié)構(gòu)質(zhì)量檢測干耦合方法研究》